Электричество Назад к списку

Электричество

Назад к списку
537
С 38
Синдо, Д.

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : монография / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. С. А. Иванов. - М. : Техносфера, 2006. - 256 с. : ил. ; 21 см. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5-94836-064-4 : 176 р.

Аннотация: Посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов, спектроскопии потерь энергии электронов, энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии, а также цифровыми системами регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.
Имеются экземпляры в отделах:
ЧЗ Инв.04104 (свободен)
537
К 47

Кларк, Э. Р.

Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. С. Л. Баженов. - М. : Техносфера, 2007. - 376 с. : ил. ; 23 см. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-121-5 : 369 р.

Аннотация: Рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.
Имеются экземпляры в отделах:
ЧЗ Инв.04105 (свободен)
537
Э 17

Эгертон, Р. Ф.

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию : монография / Р. Ф. Эгертон ; пер. С. А. Иванов. - М. : Техносфера, 2010. - 304 с. : ил. ; 21 см. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-254-0 : 607 р.

Аннотация: Растровые и просвечивающие электронные микроскопы стали незаменимыми приборами для исследований в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях, а также в биологии и медицине. В данной монографии излагается введение в теорию и современную практику электронной микроскопии.
Имеются экземпляры в отделах:
ЧЗ Инв.04103 (свободен)

537
С 42

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие / М. М. Криштал, И. С. Ясников [и др.] ; ред. М. М. Криштал. - М. : Техносфера, 2009. - 208 с. : ил. ; 21 см. - (Мир физики и техники). - Допущено учебно-методическим объединением по образованию в области металлургии. - ISBN 978-5-94836-200-7 : 449 р.

Аннотация: Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать ниаболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии.
Имеются экземпляры в отделах:
ЧЗ Инв.04102 (свободен)